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KETT產品目錄 > KETT / Qnix 膜厚計 > 三機合一膜厚計 Qnix QuaNix 8500 basic
三機合一膜厚計 Qnix QuaNix 8500 basic
※ 內建+外接+無線磁性非磁性兩用測頭三合一膜厚計 QuaNix 8500 basic
※ 只需在測量前用裸材(未塗佈樣本)歸零即可, 測頭永久免校正
※ 測頭可依測量範圍不同做更換
※ 測頭永久免校正
※ 統計功能，計算平均值、最大值、最小值、標準差
※ 內建記憶體, 具自動統計機能
※適用底材：磁性 (鋼 / 鐵) , 非磁性底材 (鋁 / 鋅 / 銅 / 黃銅)
※ 底材厚度：Fe 最薄0.2mm / Nfe 最薄0.05mm
※ 只需在測量前用裸材(未塗佈樣本)歸零即可, 測頭永久免校正
※ 測頭可依測量範圍不同做更換
※ 測頭永久免校正
※ 統計功能，計算平均值、最大值、最小值、標準差
※ 內建記憶體, 具自動統計機能
※適用底材：磁性 (鋼 / 鐵) , 非磁性底材 (鋁 / 鋅 / 銅 / 黃銅)
※ 底材厚度：Fe 最薄0.2mm / Nfe 最薄0.05mm
產品規格
測定範圍 |
Fe 0 ~ 2000 μm (標準) |
溫度範圍 |
0~50°C |
| 解析度 |
100 μm以下 0.1 μm 100 μm以上 1 μm 1 mm以上 0.01 mm |
準確度 |
±1um+讀值的2% |
| 螢幕顯示 |
LCD 背光液晶螢幕顯示 |
| 測量面積 |
最小 20 ×20 mm² |
測量半徑 |
凸面 5 mm / 凹面 35 mm |
| 測頭 |
內建或外接導線測頭(標配) |
| 電源供應 |
1.5V×2AA 型鹼性電池 |